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    上海伯东真空产品事业部搬迁通知

    inTEST 半导体电源芯片高低温测试
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    inTEST 半导体电源芯片高低温测试

    电源芯片是在电子设备系统中担负起对电能的变换, 分配, 检测及其他电能管理的职责的芯片.

    半导体电源芯片高低温测试: 电源芯片由于多是在狭小空间内工作, 散热的条件不好, 大多是在高温的环境中长时间工作, 电源芯片经常经历快速升温的情况, 甚至经历在电压不稳时快速变温的情况, 所以电源芯片在出厂时需要经过测试芯片在快速变温过程中的稳定性, 这点十分重要.

    半导体电源芯片高低温测试客户案例: 上海伯东某生产电源芯片企业, 下图为实际的被测电源芯片, 焊在PCB 板上. 需要在通电的情况下进行温度测试.
    半导体电源芯片高低温测试
    针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供半导体芯片测试解决方案
    推荐使用美国 inTEST ATS-545 高低温测试机, 将高低温设备的罩子, 直接罩住待测试的通电芯片, 即可开始测试, ATS-545 测试温度 ﹣60℃~150℃ , 变温速率 -55至 +125°C <10 s, 温度精度 ±0.1℃, 可以做 12组不同形式的循环温度设定, 满足客户要求, 快速完成测试任务.
    半导体电源芯片高低温测试
    上海伯东美国 inTEST thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程机联用, 进行半导体芯片高低温测试.

    鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式
    上海伯东: 叶女士                                  台湾伯东: 王女士
    T: +86-21-5046-3511 ext 109             T: +886-03-567-9508 ext 161
    F: +86-21-5046-1490                          F: +886-03-567-0049
    M: +86 1391-883-7267                       M: +886-939-653-958
    ec@hakuto-vacuum.cn                        ec@hakuto.com.tw
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